본문 바로가기
주메뉴 바로가기
Introduction
Introduction
Member
Professor
Students
Research
Autonomous Driving
Industrial AI
Publications
Journal
Conference
Patents
Board
Notice
Gallery
Contact us
메뉴
메뉴
닫기
Publications
Journal
Conference
Patents
Patents
반도체 칩의 실장 검사 방법 및 이를 수행하기 위한 컴퓨팅 장치
관리자
2024-11-29
조회수
17
출원번호 : 10-2024-0174084
목록
다음글
3D 라이다의 고속 객체 인식을 위한 채널별 컨볼루션 기반의 합성곱 신경망
이전글
카메라와 라이다를 이용한 교통 법규 위반 감시 시스템