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반도체 검사공정의 결함검출을 위한 비지도학습 기반의 딥네트워크 개발
작성자
관리자
작성일
2021-06-28
293
조회수
연구기간: 2020/03/01-2021/12/31
지원기관: 삼성전자(주)
관리연구소: 충북대학교 산학협력단
개발목적 : 스마트 팩토리를 위한 차세대 검사장비에 적용될 정상샘플만의 학습으로 입력 데이터의 정상/결함 여부를 판정할 수 있는 비(반) 지도학습 기반의 one-class classification 네트워크를 설계 및 제작
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