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2차전지 탭 웰딩용 최적화 검사 시스템 개발
작성자
관리자
작성일
2021-06-28
195
조회수
개발기간 : 2017.06.01 ~ 2018.05.31
지원기관 : 중소기업청
협력기관 : 디씨아이테크
개발목적 : 2차전지 탭 웰딩 외관 검사를 위한 새로운 비전 검사기 개발
